设备介绍
X射线衍射技术可以对金属固溶体、合金相结构、氧化物相合成、材料结晶状态、金属合金化、结晶度、原料的晶型结构检验、金属的氧化、各种陶瓷与合金的相变、晶格参数测定、非晶态结构、纳米材料粒度、矿物料结构、建筑材料相分析、水泥物相分析等进行检测。
| 收费标准 | 校外：0/小时；150/样品 校内：0/小时；150/样品 测试方法与条件： 广角衍射数据采集【校内:35元 加0元／样品 校外:0元 加150元／样品】/小时 | ||
| 性能指标 | 仪器基本性能指标： （1） 广角扫描角度范围3 度～90 度； （2） 小角扫描角度范围0.3 度～10 度； （3） 扫描速度4 度/分钟～80 度/分钟； （4） Cu靶，40 kv，30 mA； | ||
| 主要应用 | X射线衍射技术可以对金属固溶体、合金相结构、氧化物相合成、材料结晶状态、金属合金化、结晶度、原料的晶型结构检验、金属的氧化、各种陶瓷与合金的相变、晶格参数测定、非晶态结构、纳米材料粒度、矿物料结构、建筑材料相分析、水泥物相分析等进行检测。 | ||
| 样品要求 | （1）测试样品可以是金属、非金属（天然矿物、矿渣、微晶玻璃、陶瓷或水泥）、有机材料的粉末、块体或薄膜。 （2）对于粉末样品：原则上应磨成320目的粒度，约40微米，粒度粗大衍射强度底，峰形不好，分辨率低；采用玻璃样品槽，粉末样品装于玻璃样品槽凹槽内，并压实与样品槽平面齐平。 （3）对于块体样品：金属样品如块状、板状、圆拄状要求磨成一个平面，块体最长边尺寸不超过2 cm；采用铝合金样品槽，使样品平面与铝合金样品槽平面齐平。 （4）对于薄膜样品：应能够平铺于测试样品槽之上，或粘附于厚度1.5～2 mm左右的长条形玻璃片上（载玻片大小）。 | ||
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