设备介绍
Ｘ射线荧光光谱仪是上世纪中叶逐步发展起来的大型分析仪器。其利用初级Ｘ射线光子或其他微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生具有特征的能量特性或波长特性的荧光（次级Ｘ射线），并分别以特性能量或波长的种类和强度为定性、定量基础而进行物质成分分析和化学态研究。Ｘ射线荧光光谱分析方法具有分析速度快、非破坏性、分析元素范围广（Be~U）、分析含量范围广、分析精度高、制样方法简单、样品形态不受约束等优点，在组分和结构分析中占据了愈发重要的地位，广泛应用于物理、化学、材料、生物、医学、天文、环境、考古、工业生产等领域。
| 收费标准 | 校外：0/小时；0/样品 校内：0/小时；0/样品 测试项目： 固体样品【校内:200元 校外:400元 】/小时 液体样品【校内:300元 校外:600元 】/小时 压片制样【校内:30元 校外:60元 】/每样品 熔融制样【校内:50元 校外:100元 】/每样品 | ||
| 性能指标 | 1.X射线管：高性能Rh，超薄窗（50 μm） 2.最大功率：4.2 kW固态高频发生器、最大电压70 kV、最大电流140 mA、 综合选择不超过4200 W 3.光谱仪环境：真空－用于固体样品分析，氦气－用于液体样品分析 4.两个探测器：闪烁计数器和流气正比计数器 5.第六代莫尔条纹测角仪，无齿轮磨损，定位准确 ，转动速度快 6. 112位全自动进样器，可设置优先分析位置 7. 分光晶体： LiF－200平面晶体（元素K－U）、AX－03平面晶体（O－Mg）、PET平面晶体（元素Al－Cl）、LiF－220 平面晶体 (元素Ti－ U，改善分辨率)、Ge晶体（主要分析元素 P、S） | ||
| 主要应用 | Ｘ射线荧光光谱仪是上世纪中叶逐步发展起来的大型分析仪器。其利用初级Ｘ射线光子或其他微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生具有特征的能量特性或波长特性的荧光（次级Ｘ射线），并分别以特性能量或波长的种类和强度为定性、定量基础而进行物质成分分析和化学态研究。Ｘ射线荧光光谱分析方法具有分析速度快、非破坏性、分析元素范围广（Be~U）、分析含量范围广、分析精度高、制样方法简单、样品形态不受约束等优点，在组分和结构分析中占据了愈发重要的地位，广泛应用于物理、化学、材料、生物、医学、天文、环境、考古、工业生产等领域。 | ||
| 样品要求 | 样品有足够的代表性，试样在Ｘ射线照射及真空条件下应该稳定、不变形、不引起化学变化 1. 液体能在氦气环境下分析 2. 固体：试样均匀，表面平整、光洁、无裂纹，无污染，能在真空下分析； 尺寸要求大小（mm）：10×10～45×45；厚度：金属陶瓷 1～20、塑料等有机质基体 5～20 3. 粉末 （1）压片法 ：样品均匀、粒度＜200目；样品量>5g；厚度：3－5mm；样品需干燥处理；压片成形性较好 （2）熔片法：样品均匀、粒度＜200目；样品量（0.5g－2g）；硫化物、金属单质样品需特殊注明 | ||